德國Mahr馬爾MAROPTOFI1040ZFIZEAU干涉儀可用于平面和球面40mmFizeau干涉儀40mmFizeau干涉儀，可用于平面和球面MarOptoFI1040Z是一款功能強大的干涉儀，可以提供平面和球面以及透射波陣面非接觸測量

德國Mahr馬爾MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉儀

可用于平面和球面40 mm Fizeau 干涉儀

40 mm Fizeau 干涉儀，可用于平面和球面

MarOpto FI 1040 Z 是一款功能強大的干涉儀，可以提供平面和球面以及透射波陣面非接觸測量。MarOpto FI 1040 Z 是測量平晶、棱鏡和鏡頭或精密金屬工件（包括軸承、密封表面和拋光陶瓷）等光學組件的理想選擇。可以通過簡單的干涉條紋檢測、IntelliPhase 靜態空間載波分析或相位調制干涉圖分析來執行測量。MarOpto FI 1040 Z 可提供現在的工業應用需要的靈活性和優異的性能。

6x / 3x 縮放，適合MAX直徑 1.5 mm 的工件

3 種干涉圖分析模式：相移，IntelliPhase – 靜態空間載波分析，或條紋跟蹤（自動或手動）

尺寸小，方便集成到 OEM 系統。

緊湊耐用的設計

從 F / 0.7 到 F / 6.0 的透射球面

德國Mahr馬爾MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉儀應用

小型光學元件的透射和表面測試

光學元件、車削零件、陶瓷、半導體和晶圓的測量

集成曲率半徑測量