掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。

    電子顯微鏡（electron microscope）是利用電子與物質作用所產生之訊號來監定微區域晶體結構，微細組織，化學成份，化學鍵結和電子分布情況的電子光學裝置。常用的有透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。

    多功能電子顯微鏡將常見的ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＳＴＥＭ、ＥＤ四種模式結合在一起，用戶可根據樣品分析需要進行隨意切換。

產品簡介：加拿大小型多功能電鏡LVEM5

功能特點：

         Delong America公司推出的新一代電子顯微鏡LVEM5，采用革命性新技術，尺寸較傳統電鏡縮小了90%，是世界上zui小的透射電鏡。同時集成了掃描電鏡功能，是世界上*臺多功能電子顯微鏡。

１、體積與光學顯微鏡相仿，價格便宜，操作簡便

２、透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式

３、場發射電子槍：高亮度、高對比度

４、5kV低加速電壓，有效提高輕元素樣品成像質量觀測生物樣品無需染色

５、真空封鎖技術，更換樣品僅需3分鐘

６、無需冷卻水，無需專業實驗室，維護成本極低