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ESCALAB 250Xi X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針

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產品詳情簡介
利用結合了高靈敏度與高分辨率定量成像和多技術能力的 Thermo Scientific™ ESCALAB™ 250Xi X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針滿足您更高的分析性能和靈活性要求。
 

描述

配備為提供 XPS 性能而設計的單色化X射線源,確保ESCALAB 250Xi X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針有的樣品測試通量。多技術能力、一系列靈活的樣品制備室及樣品處理設備,使該儀器在解決任何表面分析問題時都能游刃有余。利用的 Avantage 數據采集和處理系統,從測試數據中挖掘盡可能多的信息。
ESCALAB 250Xi X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針的特點:
高靈敏度能譜
小面積 XPS
深度剖析能力
角分辨 XPS
標配離子散射能譜 (ISS)功能
標配反射電子能量損失譜 (REELS)功能
標配“樣品預處理”室
多技術分析的多功能性
多個樣品制備技術可選
全自動無人值守式分析
多樣品分析

單色化X射線源
雙晶體微聚焦單色器配備一個 500 mm 直徑的羅蘭圓,使用鋁陽極靶
樣品 X 射線光斑尺寸可選擇范圍為 200 至 900 μm

透鏡、分析儀和檢測器
透鏡/分析器/檢測器一體化使 ESCALAB 250Xi XPS 能譜儀同時具備成像和小面積 XPS 分析能力的性
兩種類型的檢測器可以確保為每種分析提供檢測——二維檢測器用于成像,基于通道電子倍增器的檢測器則用于需要檢測高計數率的能譜分析
透鏡配備了兩種電腦控制的光闌組件,一套視場光闌用于控制低至 <20 μm 的分析區域,適用于小面積分析;另一套光闌則用于控制透鏡的接收角,對于高質量角分辨 XPS 至關重要
180° 半球型能量分析器

深度剖析
數控式 EX06 離子槍是一款高性能的離子源,哪怕在使用低能離子源時也有著很好的性能
提供方位角樣品旋轉
多技術能力
可配備其他分析技術而不降低 XPS 檢測性能
使用 EX06 離子槍時透鏡組和能量分析儀的電源可反向(確保離子散射能譜 (ISS) 可用)
電子槍可加壓升至 1000 V,為 REELS 提供優異的離子源

技術選項
非單色化 X 射線光源的XPS分析
AES(俄歇電子能譜)
UPS(紫外光電子能譜)

真空系統
5 mm 厚高導磁?金屬分析室,提高磁屏蔽效率
與使用內部或外部屏蔽的方法相比,屏蔽效能更佳

樣品制備
系統標配一體化的快速進樣室和制備室
額外的制備室可選
Avantage 數據系統
集成了測試分析的所有方面,包括儀器控制、數據采集、數據處理和報告生成
允許遠程控制,并且可輕松與第三方軟件交互(例如 Microsoft Word)
管理從樣品載入到報告導出的整個分析過程



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