M215190掃描電子顯微鏡廠家采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息；對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

M215190掃描電子顯微鏡廠家采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息；對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

M215190掃描電子顯微鏡廠家技術參數 
1.高真空模式：3.0nm 低真空模式：4.0nm 
2.低真空度1 to 270Pa，高、低真空切換 
3.樣品臺X:80mm Y:40mm T:-10 to +90degree R:360degree 
4.加速電壓0.5kV to 30Kv束流1pA—1uA 
5.真空系統馬達驅動臺能譜分析接口