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返回產品中心>掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。
掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100技術指標:
| SPM探頭 |
| 樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。 |
| XYzui大掃描范圍：標準6X6微米 |
| XY向分辨率：0.4nm（輕敲模式）；0.3nm（AFM模式）；0.1nm（STM模式） |
| Ｚ向分辨率：0.05nm（輕敲模式）；0.03nm（AFM模式）；001nm（STM模式） |
| XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米 |
| 步進馬達自動進行針尖-樣品逼近 |
| 44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統（選配） |
| 電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配） |
| 全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購） |
掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100特點
| 計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。 |
| 步進馬達自動進行針尖--樣品逼近，保證實驗圓滿成功。 |
| 深度陡度測量，三維顯示。 |
| 納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。 |
| Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域． |
| 標準RS232串行接口,無需任何計算機卡 |
| 樣品觀測范圍從0.001um-20000um。 |
| 掃描速度達40000點/秒 |
| 可選配納米刻蝕功能模塊。 |
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