UVISELPlus橢圓偏振光譜儀UVISELPlus光譜范圍從FUV到NIR:190-2100nmUVISELPlus橢圓偏振光譜儀為薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優化組合
UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀
UVISEL Plus光譜范圍從FUV到NIR:190-2100nmUVISEL Plus是材料科學研究的理想工具。
產品優勢
●高精度和高靈敏度
●模塊化設計
●寬光譜范圍: 190-2100 nm
●集數據測量、建模和自動化操作為一體的軟件包
獲得的信息
●膜層厚度,從1?到50 µm
●表面和界面粗糙度
●光學常數 (n,k) ,適用于各向同/異性和漸變層
●光學特性如:吸收系數α, 光學帶隙Eg
●材料性能:合金成分、孔隙率、結晶度及形貌等
●穆勒矩陣
●退偏
UVISEL 規格
●光譜范圍:標配190-885nm,可擴展至近紅外2100nm
●檢測系統:高分辨率光譜儀配合高靈敏探測器
手動配置
●光斑尺寸:0.05 – 0.1 – 1 mm(針孔)
●樣品臺:直徑150mm,手動調節高度(20mm)和傾角
●卡位量角器:手動調節角度,從55°到90°,步徑5°
自動配置
●光斑尺寸:0.05 - 0.1 - 1 mm或0.08 - 0.12 - 0.25 - 1.2 mm(針孔)
●自動樣品平臺:200 x 200mm或300 x 300mm,手動調節高度(4mm)和傾角;●XYZ樣品臺,theta平臺
●自動量角器:自動調節角度,從45°到90°,步徑0.01°
集成型量角器
●手動調節入射角度,從35°到90°,步徑5°
●樣品臺:直徑150mm,手動調節高度(20mm)
●自動準直系統(可選)
●尺寸: 25cm*21cm*35cm
在線配置
●機械適配器:CF35或KF40法蘭
●易于在在線和離線配置間更改
選配
●附件:冷熱臺、液體樣品池、電化學反應池、反射模塊(測試0°入射的反射率)等
●可視化:CCD攝像機
性能
●準確度:Ψ= 45°±0.01°和Δ=0°±0.01°,空氣對射1.5 - 5.3 eV
●重復性:NIST 1000? SiO2/Si (190-2100 nm),d±0.1%,n(632.8nm)±0.0001
*您想獲取產品的資料:
個人信息: