Tecnai G2 F20是一個真正多功能、多用戶環境的200kV工具。它以其將各種透射電鏡技術（包括TEM、EFTEM、Lorentz透鏡、STEM、EDX/EELS頻譜成像等）方便靈活地有機組合, 形成強大的分析功能, 而在同類型儀器中*。任務導向型用戶界面和自動采集數據功能, 使用戶從必須首先成為電鏡專家才能獲得理想結果的壓力中解放出來, 使他們專注于自己的研究工作。Tecnai G2的“*一體化”概念允許在不同的操作模式和數據采集技術之間快速切換, 切換過程中系統自動調回所有相關的操作設置。
Tecnai G2 F20以您實驗室的現狀而構建: 具有各種分析要求的、不同應用水平的操作者都要在上面工作。同時, 這一TEM/STEM系統已經為明天做好準備, 它可以用新的功能進行升級, 以保證方便快速地進行更*的數據采集。 Tecnai G2 F20為通用納米分析技術透射電鏡平臺的設立了一個標準。




1.高性能的透射電子成像、掃描透射成像和納米分析
2.所有的*分析技術集成于一體: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、電子衍射、EFTEM、EDS和EELS頻譜圖、全息技術和Lorentz透鏡技術、三維重構技術、低劑量曝光技術、冷凍電鏡技術
3.多用戶環境下的方便和安全操作
4.適用于大量樣品的快捷分析
5.將來技術, 今日應用
6.基于Windows XP操作系統的用戶界面

參數：

1.信息分辨率極限
　　U-TWIN 0.12nm;
　　S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm ; TWIN
2.點分辨率
　　U-TWIN 0.19nm ;
　　S-TWIN 0.24nm ;
　　X-TWIN 0.25nm ; TWIN 0.27nm
3.高分辨STEM分辨率
　　U-TWIN 0.14nm ;
　　S-TWIN 0.19nm ;
　　X-TWIN 0.18nm; TWIN 0.16nm
4.加速電壓 20-200kV,連續可調
5.電子束能量色散 <0.7eV
6.zui大束流 >100nA. 1nm束斑zui大束流>0.5nA.
7.樣品zui大傾角 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70°
　Tomography樣品桿 +/- 70o
8.EDS立體角
　　X-TWIN 0.3sr
　　S-TWIN/U-TWIN 0.13sr