高壓蒸煮(PCT)試驗箱又名高壓加速壽命試驗機是半導體元器件元器件行業的測試設備

高壓蒸煮(PCT) 試驗箱又名高壓加速壽命試驗機是半導體元器件元器件行業的測試設備。用于評估器件在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力（耐高濕能力），加速其失效過程。
主要技術參數：
名稱：高壓蒸煮(PCT) 試驗箱
型號：LS-PTC-30
溫度范圍: +100 ℃ ～ +132 ℃( 飽和蒸氣溫度 )
升溫時間：常溫RT ～ ＋132℃小于45分鐘非線性空載
濕度范圍: 99%R.H飽和蒸氣.（不可調）
壓力范圍：
1.要求壓力：+0 ～ 200kpa/cm2.=2.0kg/cm2
2.測試條件：溫度133℃ 濕度99%R.H飽和蒸氣，壓力2.0kg/cm2
3.安全壓力容量：4kg/cm2＝1個大氣壓＋3kg/cm2).
循環方式: 水蒸氣自然對流循環.
測時間設置：0 ～ 999 Hr.
加壓時間：常壓/cm2 ～ 2.0kg/cm2約需45分鐘.