鍵盤按鍵壽命試驗機YTX-KLT-E，源泰鑫儀器本機可測試筆記本計算機、手機、掌上計算機等的按鍵和其它各種按鈕、開關的耐久壽命
鍵盤按鍵壽命試驗機
YTX-KLT-E，源泰鑫儀器
本機可測試筆記本計算機、手機、掌上計算機等的按鍵和其它各種按鈕、開關的耐久壽命。
能同時測試數個產品（每個產品均可多點測試），另每個按鍵可設定不同壓力及不同高低的按壓力。
技術規格：
動作行程 10mm（固定）
工件高低調整范圍 100mm
夾具夾持能力 400×300mm
測頭安裝范圍 350×250mm
試驗次數 999999×10次
試驗速度 60-300Rpm
荷重范圍 50-450g
測頭高低調整 15mm
測頭數量 15個
兩支測頭最小間隔
X方向10mm,Y方向20mm
外觀尺寸 520×420×980mm
重量 110kg
電壓 AC 220V
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