PCT飽和加速壽命試驗箱--產品用途
用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定
PCT飽和加速壽命試驗箱--結構特點
設備特點:
1、優化設計,美觀大方,做工精細。
2、對應IEC60068-2-66條件,具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器。
3、采用7寸真彩式觸摸屏,擁有200組12500段程序,具有USB曲線數據下載功能,RS-485通訊接口。
4、采用高效壓力倉,使箱內達到純凈飽和蒸汽狀態。
5、具有緩解壓、排氣、排水功能,控制避免試驗結束后壓力溫度的急變,保證試驗結果的正確。
6、多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。
7、PCT高壓加速老化試驗機可根據客戶產品定制專用產品架。
規范要求:
1、PCT高壓加速老化試驗機內膽采用圓弧設計,符合國家安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
2、配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制專用產品架。
3、標準配備8條試驗樣品信號施加端子,也可以根據需要增加端子數量,最多可提供55條偏壓端子。
4、具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業。
PCT飽和加速壽命試驗箱--符合標準
JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏離的高壓滅菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22
GB-T2423.34-2012試驗ZAD:溫度濕度組合循環試驗
PCT飽和加速壽命試驗箱--規格與技術參數
型號(CM) | ETE-HAST | ETE-HAST | ETE-HAST | ETE-HAST | |
工作室尺寸(Φ*D)mm | Φ300*450 | Φ400*550 | Φ500*650 | Φ750*900 | |
功率 | 3.5(KW) | 4.6(KW) | 5.5(KW) | 8.5KW | |
性能 | 溫度范圍 | 100℃ ~ 132℃ | |||
溫度波動 | ≤±0.5℃ | ||||
溫度均勻度 | ≤±2.0℃(恒定時) | ||||
濕度范圍 | 99%RH | ||||
壓力范圍 | A:0 ~ 0.2MPa B:0 ~ 0.3MPa C:0 ~ 0.4MPa | ||||
濕度均勻度 | ≤±3.0%RH(恒定時) | ||||
樣品區承重 | 20kg | 20kg | 20kg | 20kg |
*您想獲取產品的資料:
個人信息: