靈敏度更高采集速度更快通訊方式更多產品介紹全新的FX系列,使用CMOS探測器有效提高靈敏度
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產品介紹
全新的FX系列,使用CMOS探測器有效提高靈敏度。每秒4500張的圖譜獲得速度,以及強化的模塊通訊集成了以太網以及WiFi,全新的光譜儀在UV-VIS波段響應更加靈敏,更快的分析速度在食品的分類揀選及流程、生物科學等行業表現更加優秀。
產品特征及優勢
特征 | 優勢 | 應用 |
CMOS 檢測器 | 光譜覆蓋200-1100nm 而且在UV段靈敏度更高 | ? 生物醫學(比如:DNA檢測) ? UV段氣體檢測 |
高速度采集 | 更短時間、更快速度獲取光譜 | ? 食品篩選與過程監控 ? 動力學檢測 ? 激光器檢測(脈沖模式) ? 高強度等離子體檢測 ? 瞬時采集 ? 產品生產過程中的監測和質量控制 |
積分時間最小10μs | ||
緩存和時間戳 | 板載50,000張光譜緩存 確保整個動力學測試過程不會丟失數據 | ? 細胞中酶反應化學動力學 ? 藥物合成中的反應動力學 |
多通訊模式 | 以太網,Wi-Fi,Type-C多通訊模式 | ? 遠程監控 ? 手持化設備 ? 過程應用 |
產品參數
光譜范圍 | 200-1100nm(可在該范圍內進行配置) |
可選配置 | UV-Vis (200-850 nm) w/25 μm slit |
Vis-NIR (350-1000 nm) w/25 μm slit | |
寬光譜范圍(200-1025 nm) w/25 μm slit | |
光學分辨率 | 0.8nm(FWHM),基于配置:600刻線光柵以及5μm狹縫 |
SNR(單次掃描) | ~300:1 |
動態范圍(單次掃描) | ~6400:1 |
積分時間 | 10 μs-10 s |
掃描速度() | 4500 scans/s* 掃描速度取決于很多因素,包括計算機硬件的性能以及操作系統的區別。 |
熱穩定性 | 0.11 pixels/℃ |
狹縫 | 5,10,50,100 或 200μm狹縫 |
SMA 905 或 FC |
更多應用方案
LIBS 光譜:
LIBS系統中,激光器用來激發樣品產生等離子體,光譜儀獲取的原子發射譜線可以判定樣品的物質組成成分。由于等離子體的生命周期很短,激光激發樣品的時間也很短,所以需要使用更短積分時間的光譜儀來收集等離子體的主要光譜信息。
快速測量:
快速獲取的光譜可以觀察火花、爆炸物、炮火等的特征信息,包括組成和溫度信息等。通過同步觸發,可以監測同一反應或者同一物質不同時間的不同信息。
對在線生產中的產品或者整個生產過程進行監控,由于整個過程非常迅速,另外可檢測點又是特定的,所以檢測儀器就需要極快的光譜的響應時間。生產過程中進行同步測量非常有利于對整個過程進行實時監控。
LEDs在生產過程中通過CWL,FWHM,或者CIE顏色值差異進行分選,整個分選過程速度非???,而顏色作為白光LED分選的主要判斷指標,另外還因為白光LED的ΔE值也相對比較小,所以就需要檢測的設備有更高的靈敏度和更短的時間獲得更穩定的光譜數據。
盡管使用光譜儀對激光進行檢測很大可能出現飽和現象,但是我們還是要檢測激光指標CWL和FWHM。如果需要檢測FWHM,必須要確保光譜儀的分辨率要低于激光的FWHM。即使光譜儀的分辨率寬于待檢測的激光線寬,只要檢測器不飽和,CWL的值還是準確的。
發射光譜測試一般會用在科研、環境監測等領域,被檢測的樣品一般被氣化并表現為原子形式,這些離子化的原子產生的發射譜線可以用來表征物質成分。我們的OEM客戶使用該方法對水中的痕量金屬進行檢測,同時也有其他客戶使用該方法對工業用油進行檢測。
等離子體的發射譜線可以用來評估等離子體的狀態或者消亡過程。
可以通過等離子體的發射譜線對激光焊接/沉積過程中的溫度及其他參數,從而監控整個焊接過程。
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