尼康XT V系列包括用于電子元件（PCB、BGA、芯片設計等）無損檢測X射線和CT檢測系統。

尼康XT V系列包括用于電子元件（PCB、BGA、芯片設計等）無損檢測X射線和CT檢測系統。

XT V 130和XT V 160

XT V系統范圍具有亞微米特征識別功能，可滿足當今對復雜電子元件進行高性能、無損檢測的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與業界的平板探測器相配，可產生的圖像質量，并在2D和3D檢測之間實現無縫轉換。

產品特點：

的X射線源

尼康的Xi Nanotech X射線源由于整體式發生器設計和的160kV與20W功率而具有和市場的特點。

PCB分析套件

BGA、鍵合線、PTH和多層板上的PoP等復雜封裝的高級測量和分析功能，具有自動通過/失敗檢測和報告功能。

斜角同心成像

斜角視場高達90°，360°樣本旋轉，借助智能軟件和硬件保持感興趣區域。