產(chǎn)品簡介 德國瑞RS-40_GA涂層重量厚度儀

? 顯著提高鐵含量的測量，增強了與實驗室分析對比的一致性。

? 新型能量分散電離室，可同時測量鐵和鋅輻射。

? 優(yōu)化的幾何形狀和更多的測量通道，以降低對表面紋理和拓撲的敏感性。

? 數(shù)字化測量頭內(nèi)部的測量信號，以防工業(yè)環(huán)境中的干擾。

在熱鍍鋅生產(chǎn)線中，新開發(fā)的測量頭RS40i-GA可以顯著改善涂層中鐵含量的測量。與實驗室分析的對比顯示出更好的一致性。

鐵含量更有意義

在鍍鋅帶鋼的生產(chǎn)中，不僅涂層的厚度和均勻性決定了高質(zhì)量的產(chǎn)品。另外，涂層的鐵含量必須保持在狹窄的范圍內(nèi)，因此在每條鍍鋅線中都必須準確測量涂層厚度和鐵含量。

瑞的專家為在線鐵含量測量的發(fā)展做出了巨大貢獻。在過去的幾年中，RS-40系列涂層重量和厚度儀一直在不斷改進。借助新型RS40i-GA測量頭及其優(yōu)化的測量算法，在鐵含量測量的準確性和可靠性方面實現(xiàn)了另一項突破。

新測量頭的中心是能量分散電離室，可以同時測量鐵和鋅熒光輻射。輻射分量的信號精確地確定了測量區(qū)域。創(chuàng)新的電離室和更多的測量通道數(shù)量使檢測器布置具有嚴格的對稱性和冗余性。這導致對表面紋理和拓撲的敏感性降低。

模塊化，易于維護的設(shè)計簡化了儀表頭的維修，并減少了停機時間和成本。

? 使用XRF和康普頓散射技術(shù)測量范圍高達500g/m2。

? 新設(shè)計的電離室，效率更高。

? 優(yōu)化的測量幾何形狀，對距離變化的敏感性最小。

到目前為止，使用XRF方法測量鋅涂層對275g/m2以上的涂層還不夠準確，對于厚度超過350g / m2的涂層測量更為困難。新型瑞測量頭RS40i-XT將高精度和可重復性的測量范圍擴展到500g/m2。

涂層  ? 鋅，鋁，ZnAl合金和ZnMg合金

重涂層的精度更高

使用XRF方法對鋅涂層的測量將有用的測量范圍限制為350g/m2。鑒于質(zhì)量標準的提高，用戶甚至對于300g / m2以上的涂層的測量精度和可重復性也越來越挑剔。

瑞借助新型測量頭RS40i-XT解決了這一問題。它將鋅涂層的有用測量范圍增加到500 g / m2或更高。通過將涂層中的彈性和非彈性散射納入測量效果可以實現(xiàn)這一點。彈性和非彈性散射X射線的能量由原始X射線束和測量幾何形狀確定。

而在XRF效應中，熒光輻射的能量是固定的，而散射過程中涉及的能量可以適應所需的涂層厚度。然而，擴展到較厚的涂層不應影響在小范圍內(nèi)的高精度，這可以通過特殊設(shè)計的高效電離室來實現(xiàn)。結(jié)果是增加了RS-40系列涂層測重儀的寶貴價值：RS40i-XT的測量范圍為10至500 g / m2。熱浸鍍鋅生產(chǎn)線中的現(xiàn)有RS-40涂層重量厚度儀可以升級。