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鍍層測厚儀CMI900

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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精度高、穩(wěn)定性好強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能測量范圍寬NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片服務(wù)及支持應(yīng)用CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn),在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用

詳細(xì)信息 在線詢價

      精度高、穩(wěn)定性好

      強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能

      測量范圍寬

      NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片

      服務(wù)及支持

應(yīng)用

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn),在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。

 

行業(yè)

用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器行業(yè)

技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格

規(guī)格描述

X射線激發(fā)系統(tǒng)

垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管,Be

標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:WMo、Ag

功率:50W(4-50kV0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)

      75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選

準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)

最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器

多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:

-圓形,如46、8、12、20 mil

-矩形,如1x2、2x2、0.5x101x10、2x10、4x16

 

測量斑點(diǎn)尺寸

12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)

12.7mm聚焦距離時,測量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

樣品室

CMI900

CMI950

-樣品室結(jié)構(gòu)

開槽式樣品室

開閉式樣品室

-樣品臺尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

XY軸程控移動范圍

標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm

還有5種規(guī)格任選

300mm x 300mm

Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時,152.4mm

XY軸手動時,269.2mm

XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

-樣品觀察系統(tǒng)

高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。

激光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

計算機(jī)系統(tǒng)配置

IBM計算機(jī)

彩色噴墨打印機(jī)

分析應(yīng)用軟件

操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺

分析軟件包:SmartLink FP軟件包

-測厚范圍

可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。

-基本分析功能

采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。

樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍:Ti22 U92

 

可同時測定5/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測,如Au karat評價

 

材料和合金元素分析,

材料鑒別和分類檢測

液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量

多達(dá)4個樣品的光譜同時顯示和比較

元素光譜定性分析

-調(diào)整和校正功能

系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移

-測量自動化功能

鼠標(biāo)激活測量模式:“Point and Shoot

多點(diǎn)自動測量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式

測量位置預(yù)覽功能

激光對焦和自動對焦功能

-樣品臺程控功能

設(shè)定測量點(diǎn)

連續(xù)多點(diǎn)測量

測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

 

 

 

 


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