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XTU-A X熒光光譜儀

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性能優勢：下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品

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     性能優勢：
 
   下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
 
   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。
 
   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
 
   高效率的接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
 
   EFP算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
 
 
 
  儀器規格：
 
  外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）
 
  樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）
 
  儀器重量 ：55kg
 
  供電電源 ：交流220±5V
 
  功率 ：330W
 
  環境溫度：15℃-30℃
 
  環境相對濕度：<70%

 


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