特點：

• 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量的鍍層
• 極耐用的設計結構，能以極出色的長期穩定性用于連續測量
• 可編程XY平臺和Z軸，用于自動化連續測量
• 擁有實時的視頻顯示和輔助激光點，使得樣品定位變得快速而簡便

應用：

鍍層厚度測量

• 測量極薄鍍層，如電子和半導體產業中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
• 測量汽車制造業中的硬質涂層
• 光伏產業中的鍍層厚度測量

材料分析

• 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質（如重金屬）進行鑒別
• 分析黃金和其他貴金屬及其合金
• 測定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量