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多功能超聲波測(cè)厚儀CMXDL+

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多功能超聲波測(cè)厚儀CMXDL+美國(guó)DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測(cè)厚儀,帶A/B掃描功能,可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度

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多功能超聲波測(cè)厚儀CMXDL+





美國(guó)DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測(cè)厚儀,帶A/B掃描功能,可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置。
標(biāo)準(zhǔn)版為灰度顯示屏,可選彩屏版。


儀器特點(diǎn)


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100MHz FPGA時(shí)序電路設(shè)計(jì)
可選彩色和灰度顯示屏
    A/B掃描
手動(dòng)調(diào)節(jié)增益和自動(dòng)增益控制 (AGC),范圍:110dB
自動(dòng)時(shí)間相關(guān)增益(TDG)
多種測(cè)量模式
脈沖-回波(P-E)模式:測(cè)量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時(shí)測(cè)量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式:測(cè)量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿過(guò)涂層測(cè)量材料厚度
回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式: 穿過(guò)涂層測(cè)量材料厚度
測(cè)量涂層(CT)模式:只測(cè)量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
    USB Type-C數(shù)據(jù)接口
內(nèi)置4GB SD存儲(chǔ)卡




技術(shù)參數(shù)



測(cè)量


脈沖-回波(P-E)模式測(cè)量范圍:0.63mm30.48m()
脈沖-回波涂層(PECT)模式測(cè)量范圍:0.63mm30.48m()0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式測(cè)量范圍:0.63mm30.48m()
回波-回波(E-E)模式測(cè)量范圍:2.54152.4mm(鋼,穿過(guò)涂層測(cè)量,隨涂層厚度的不同,測(cè)量范圍也會(huì)變化)
回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式測(cè)量范圍:2.54102mm(鋼,穿過(guò)涂層測(cè)量,隨涂層厚度的不同,測(cè)量范圍也會(huì)變化)
測(cè)量涂層(CT)模式測(cè)量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率:0.01mm
聲速范圍:309.8818542m/s
單位:公制或英制
校準(zhǔn):一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式


顯示


顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素。可視區(qū)62x45.7mmEL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素
    A-
掃描方式:檢波+/-(缺陷視場(chǎng))RF(全波視場(chǎng))。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏)
    B-
掃描方式:基于時(shí)間的橫截面視圖。顯示速度為每秒10200個(gè)讀數(shù)
大數(shù)字方式:標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示,數(shù)字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)
厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見
穩(wěn)定度指示:表示測(cè)量值的穩(wěn)定性
功能狀態(tài)指示:顯示當(dāng)前的功能


超聲波參數(shù)


測(cè)量模式:P-EPECTPETPE-EE-EVCT
脈沖:可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
接收:根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動(dòng)或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調(diào)
計(jì)時(shí):?jiǎn)未?/span>100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀TCXO計(jì)時(shí)
脈沖重復(fù)頻率:250Hz


探頭


頻率范圍:1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
    LEMO
接口,1.2米探頭線
可定制用于特殊應(yīng)用的探頭


存儲(chǔ)


容量:內(nèi)置4GB SD
數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu):網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動(dòng)識(shí)別)
截屏功能:位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出:通過(guò)USB Type-C連接的計(jì)算機(jī)


功能


設(shè)置:64個(gè)用戶定義設(shè)置,用戶也可編輯出廠設(shè)置
探頭類型可選:內(nèi)置雙路誤差校正,提高線性度
**模式:上下限視聽**
快速掃描模式:每秒250個(gè)讀數(shù),當(dāng)探頭離開時(shí)顯示小值


其他


鍵盤:12個(gè)觸摸鍵
電源:標(biāo)配為三節(jié)5號(hào)堿性電池,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無(wú)操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。USB Type-C供電
外殼:擠壓鋁機(jī)殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度:-1060℃
尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含電池385g
包裝:ABS工程塑料箱
出廠證書:工廠校準(zhǔn)可追溯到NISTMILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)




雙晶探頭


   型號(hào)

   頻率

  探頭晶片直徑

   探頭防磨面直徑

   測(cè)量范圍

   說(shuō)明

   PT-102-2900

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

  標(biāo)準(zhǔn)CT探頭(可測(cè)涂層厚度)

   PT-101-2900

   5.0MHz

   4.76mm

   6.35mm

   1.050mm

  小管徑CT探頭

   PT-102-3300

   7.5MHz

   6.35mm

   9.53mm

   0.63152mm

  薄探頭

   PT-104-2900

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

  CT探頭

   PT-042-2000

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

  標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭,340℃

   PT-044-2000

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

  厚高溫探頭,340℃

   PT-212-2001

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

  高溫探頭,480℃

   PT-214-2001

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

  厚高溫探頭,480℃

注:測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑


單晶探頭


   探頭型號(hào)

   頻率

   描述

   說(shuō)明

   PT-402-5507

   15MHz

   晶片?6.35mm

   標(biāo)準(zhǔn)延遲塊探頭

   PT-402-6507

   20MHz

   晶片?6.35mm

   延遲塊探頭

   PT-4903-2875

   5MHz

   晶片?3.18mm,防磨面?6.35mm

   接觸式探頭

   PT-4903-4875

   10MHz

   晶片?3.18mm,防磨面?6.35mm

   接觸式探頭

   PT-4023-2855

   5MHz

   晶片?6.35mm,防磨面?9.53mm

   接觸式探頭

   PT-4023-4855

   10MHz

   晶片?6.35mm,防磨面?9.53mm

   接觸式探頭

   PT-481-4507

   10MHz

   延遲塊前端?1.59mm

   筆式探頭



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