目前能測量固體或薄膜材料的液固介面ZETA電位的儀器很少。而應用電泳光散射的方法，測量液、固介面Zeta電位的儀器僅有貝克曼庫爾特公司上市的DelsaNano系列如電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀。

電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀簡介：

DelsaNano C是目前惟一的應用電泳光散射及動態光散射原理，同時提供顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分析儀。DelsaNnao通過特別設計的固體平板樣品池，有效精確地為固體材料、纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產提供

先進的、多用途的分析工具。

電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀技術參數：

測量范圍：

1.適合測量各種固體、薄膜、纖維等;

2.ZETA電 勢：- 200 mV ~ +200 mV

3.電遷移率：-10μm?cm/sec?V ~ 10 μm?cm/sec?V

4.可配合自動滴定儀進行動態pH滴定測量

光 源：

雙固體激光，30 mW

探測器：

高性能光電倍增管

樣品池：

固體平板樣品池

主要特點：

1.測量固液界面ZETA電位，惟一的應用電泳光散射的技術;

2.操作簡單，方便快捷;

3.靜態測量與動態測量;

4.待測樣品無須特別處理;                                               

5通過探測粒子準確推算表面ZETA電位;

6.分辨率高;

7.同時獲得粒子ZETA電位與固體表面ZETA電位;