MicroNano® D5A系列產品特點介紹
選擇一款掃描探針顯微鏡，您應該從以下幾方面考評技術性能：
一、 核心要求
1. 根據您現階段的工作需要，選擇功能模塊（決定了價格）
2. 驗證儀器綜合分辨率水平（SPMzui核心關鍵指標）
重要提醒：分辨率指標是一項和掃描器量程關聯的綜合性指標
您應該了解清楚zui大量程的那個掃描器的分辨率指標（如果廠家提供多個掃描器的話）
3. 了解樣品移動定位的措施，是否能保障樣品無盲點，精確移動到任意您想成像的區域
如果不能首先解決樣品移動定位的問題，SPM的工作將無法有效進行，再高的分辨率也是空談，因為您可能找不到您想觀測的區域！
二、 其它要求
4. 是否能夠根據特殊的科研要求提供儀器改造服務？
5. 是否能夠設計更加人性化，使操作更加方便？
我們為您提供的SPM功能模塊如下,供您自由搭配選型. 詳細指標及其他資料請咨詢銷售顧問.
1.掃描隧道顯微鏡模塊（STM）：用于獲取導電樣品表面納米尺度的形貌像；
包含：恒高/恒流模式
2.原子力顯微鏡模塊（AFM）：用于獲取樣品表面納米尺度的形貌像及其相關信息；
包含：接觸模式/起伏力/側向力；輕敲模式/起伏力/側向力/振幅/相位。
3.超級曲線測量模式：可任意設置所有AD作為Y信號，所有DA作為X信號進行曲線掃描，如I-V、I-Z、力-距離、振幅-距離、頻率-相位、相位-距離、頻率-振幅 等等曲線。
4.納米加工模塊：刻蝕模式（電刻蝕/力刻蝕/DPN（選配）），刻蝕軌跡（矢量式/圖形式）
5.高速精密電控樣品移動平臺：計算機自動控制電控馬達進行精確樣品移動和定位，zui小步進50nm，移動范圍5*5mm。可在CCD視頻界面或SPM圖像掃描界面，直接用鼠標拖動待測區到目標位置，計算機控制移動平臺自動定位。
6.高分辨彩色CCD光學觀測系統：在計算機上成像，用于觀察探針和樣品，放大倍數80-600倍，視場1.6mm，配套控制及成像軟件。
7.膜厚/臺階測量模塊：用臺階掃描的方式確定膜厚、臺階高度等，曲線很直觀的反映出掃描過程中膜和襯底特定位置的高度。只有配套電控樣品移動平臺才能精確移動到臺階位置。
8.摩擦力顯微鏡（LFM）：可定量評價極輕載荷下（10-7--10-9N）薄膜材料的摩擦學特性。可用對分模式準確標定微懸臂與掃描方向的角度；可連續改變正壓力進行測量；可同時測到樣品起伏、針尖所受的起伏力、橫向力；可獲取微觀摩擦系數。
9.減振系統：懸掛式減振，減振效果優于1Hz，是儀器達到原子分辨的有效保證。
以下10-20項的功能模塊請根據您的研究方向自由選配
10.磁力顯微鏡（MFM）：獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對應的磁疇結構及分布圖。
11.靜電力顯微鏡（EFM）：獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對應的靜電場分布圖；
12.掃描開爾文探針顯微鏡：在針尖和樣品之間施加直流和交流兩種電壓，應用鎖相放大技術可以獲得樣品表面的功函數變化和表面形貌像。
13.掃描電容顯微鏡：利用電壓調制技術來偵測材料表面電容微小變化。
14.導電原子力顯微鏡（C-AFM）：獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對應的電流像；通過對偏壓進行調制，可得到樣品表面局域I-V曲線等信息。并可實現電壓刻蝕。
15.液相/氣氛AFM：封閉式探針-樣品體系，可充液體或氣氛，實現液相/氣氛AFM多種成像模式，適用于生物樣品，而且對克服毛細力和消除靜電也有顯著的作用。
由于密閉區域只有探針-樣品區域，因此可充具有一定腐蝕性的氣體或液體，而且可以很快地更換，殘留少。可同時注入兩種液體/氣體，實時動態更換，并隨時改變各自的注入量。
可選配增強模式：在該系統中zui多增加3個外部電極，供用戶擴展應用范圍。可與電化學控制系統聯用，構成電化學SPM。
16.樣品加熱臺：控溫范圍 室溫～150℃；精度0.5℃，*設計的樣品冷卻系統，使降溫控制更加快速準確。樣品臺直徑30mm，加熱臺系統內絕熱層的巧妙設計，可有效抑制熱飄移現象對成像質量的影響。可選配250℃高溫模式。
17.壓電力顯微鏡（PFM）：于研究壓電、鐵電材料納米尺度的壓電響應特征。
可選針尖加高壓模式：電壓范圍-150V--150V
