IG-1000 單納米粒徑測定裝置用于測定納米粒子，獲得了2009Pittcon大獎。與以往粒度測定儀器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是島津公司開發的*的納米粒徑測定技術。

IG-1000 單納米粒徑測定裝置
 

　　儀器簡介：                                                                                                      
 

　　IG-1000 單納米粒徑測定裝置用于測定納米粒子，獲得了2009Pittcon大獎。與以往粒度測定儀器原理不同，IG方法(Induced Grating method)是島津公司開發的*的納米粒徑測定技術。IG-1000采用介電電泳原理，介電電泳ON時,形成部分的高(低)粒子濃度；介電電泳OFF時, 粒子擴散恢復為原始狀態；由介電電泳力使粒子構成衍射光柵，擴散后的濃度降低導致衍射光強度降低，從衍射光強度的時間變化可以得到粒子的擴散系數，進而得到粒子的粒徑。
 

　　光源：半導體激光(波長785nm)
 

　　測定原理：誘導衍射光柵法                                     
                                                                           

　　測量范圍：0.5～200nm                                            
                                                                        

　　測定體積：250~300uL
                                                             

　　主要特點：
                                                                                  

　　單納米粒子的高靈敏度分析
                                                       

　　*的抗污染能力                                                         
                                                                                         

　　良好的重現性