LEXT OLS4500 納米檢測顯微鏡是結合了傳統光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針顯微鏡（SPM）功能為一體的革新機，從而可以實現對觀測對象從幾十倍到百萬倍的連續放大, 可以滿足不同樣品的超高分辨率三維觀察，以及尺寸測量、微粗糙度測量等各種觀測需求。

LEXT OLS4500 納米檢測顯微鏡
 

　　LEXT OLS4500 納米檢測顯微鏡是結合了傳統光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡(LSM)以及掃描探針顯微鏡(SPM)功能為一體的革新機，從而可以實現對觀測對象從幾十倍到百萬倍的連續放大, 可以滿足不同樣品的超高分辨率三維觀察，以及尺寸測量、微粗糙度測量等各種觀測需求。
 

　　通過在多種顯微鏡和觀察模式間自由切換，LEXT OLS4500可以輕松實現從毫米到納米的超大范圍觀察和測量，這使得觀察對象的定位變得精準快捷，在大大縮短了獲取影像時間的同時保護了探針，并且不用擔心觀測目標的丟失。另外，這種一體的革新設計可以實現對同一對象的多手段原位觀測，從而提高了對觀測結果分析解釋的準確性和可信度！
 

　　l        光學顯微鏡：
 

　　裝有倍率不同的四種物鏡，集合了明視野觀察(BF)、微分干涉觀察(DIC)、簡易偏振光觀察及HDR(高動態范圍)觀察等多種功能。
 

　　l        激光顯微鏡：
 

　　采用短波長405nm的激光光源和高數值孔徑的物鏡、以及*的共焦光學系統，實現了優異的平面分辨率。在激光微分干涉模式中還可以實現觀察納米級的微小凹凸。
 

　　l        掃描探針顯微鏡：
 

　　專業的針尖對齊夾具避免了在儀器上調節激光光斑位置的繁瑣；
 

　　搭載導航功能，可以在已掃圖像中任意制定特定區域進一步掃描觀測；
 

　　多種觀察模式滿足對樣品表面形貌和物性的觀察分析。