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簡介：等離子質譜儀（NexION300ICP-MS）為您提供ICP-MS*的穩定性，靈活性與出色性能，是ICP-MS發展**次真正意義的革命性突破。

簡介：TRIFT-VnanoTOFII（三次聚集飛行時間）二次離子質譜儀是超靈敏的表面分析技術，可檢測表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氫都可以用飛行時間二次離子質譜分析。由初級...

簡介：SIMS工作站（SIMSWorkstation－acompleteSIMSAnalysisFacility），綜合UHV/SIMS設備，進行高級的表面分析。可靠的、普遍適用的SIMS分析工作站。

簡介：HidenTOF-qSIMS飛行時間二次離子質譜工作站設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用，包括聚合物，藥物，超導體，半導體，合金，光學和功能涂層以及電介質，檢測限低于1ppm。

簡介：

簡介：飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品...

簡介：LTQFT線性離子阱回旋共振質譜儀2004年獲得世界研究與發明技術zui高獎（R&D100Award）。在真正液相色譜/質譜在線連接的工作狀態下，得到超高分辨率、精確質量數和多級質譜分析數據。*的...

簡介：雙聚焦ICP-MS等離子質譜儀是一種基于Mattauch-Herzog設計的雙聚焦扇形場質譜儀，它擁有全新的離子光學和*的檢測器技術，是目前市場上銷售的*的從6Li—238U全質譜范圍同時測量的無...

簡介：熱電XSERIES2ICP-MS電感耦合等離子質譜儀

簡介：NexION™300是ICP-MS歷**次在一臺儀器中同時提供簡單、方便的碰撞池和具有異常出色檢出能力的真正反應池的創新儀器。擁有的通用池技術(UCT,UniversalCellTec...