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簡介：SDY-4四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器。

簡介：SDY-4型四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器.

簡介：SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和...

簡介：XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品,是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準而設計,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量一般半導體材...

簡介：SX－1934型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、塊狀半導體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻）。

簡介：射霧影儀dual根據兩種指標客觀地測量全透過率和透射霧影：快速測量大量樣品

簡介：EELM57D霧度計用于測量透明或半透明材料，比如：塑料片材、薄膜、玻璃和液體產品。其*的光學設計滿足眾多行業對或大或小的樣品的評估需求。

簡介：透光率霧度測定儀適用于一切透明、半透明平行平面樣品

簡介：1)測量范圍：低范圍0-10EBC，精度0.01EBC；高范圍9-100EBC，精度0.1EBC；2)便于4點校正；3)LED大顯示屏；4)可顯示EBC、ASBC、Helm讀數單位；

簡介：NDH5000W型濁度計/比濁計設計為對對塑料，膠片，玻璃紙，聚乙烯，玻璃和LCD觸摸板的質量控制測定。杰出的色差分辨能力和特別低的靈敏度，適合于低的和高的濁度樣品。