產品測試原理類似于干涉顯微鏡，焦平面掃過樣品表面，與焦平面相交的點產生干涉條紋，計算機記錄干涉條紋出現的時間和位置還原出樣品表面形貌測試微小臺階高度。

提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數據輸出、數據自動動態存儲、自定義數據顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數據。表面統計的計算包括峰值和谷值分析。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置、數據配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區差異繪圖。

主要特點：

◆微觀二維（2D）和三維（3D）形貌輪廓獲取
◆多種測量功能
將采樣數據運算后,可獲得精確定量的面積（空隙率，缺陷密度，磨損輪廓截面積等）、體積（孔深，點蝕，圖案化表面，材料表面磨損體積以及球狀和環狀工件表面磨損體積等）、臺階高度、線與面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數等測量數據。

NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI臺階儀是非接觸式三維高清圖像的光學輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像、大的掃描范圍，可定制的波長范范圍，使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌。提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數據輸出、數據自動動態存儲、自定義數據顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數據。表面統計的計算包括峰值和谷值分析。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置、數據配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區差異繪圖。
三維形貌儀主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
測量表面可以覆蓋90%以上材料表面。設備傳感器精度高，穩定性好，材料應用面廣。熱噪聲是同類產品zui低的。垂直分辨率可達0.01 nm （ phase-shift mode） 可測跨學科、跨領域的各種樣品表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒…）；
 
 
三維形貌儀
參數性能追尋持續改進的目標
 
AEP的技術致力于日新月異的改善產品性能參數。 欲了解的配置和性能，請與我們。
搭載多鏡頭          zui多可同時搭載6枚物鏡
Z軸聚焦范圍       0.1納米至10mm
手動旋轉平臺范圍             360度
高清圖像
 
2維、3維的直方圖等視圖
白光干涉可以呈現2維和3維圖像。利用所提供的軟件，通過設置一些選項、可以得到客戶需求的的曲線、標繪、視圖（例如直方圖及雷達圖等）
 
成像光源
長壽命強光LED，用戶可自選波長范圍
白光干涉儀對其光源承諾*的十年質保。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到*（高亮度的LED使反射率從小于0.4%到*的樣品均可清晰成像。）白光干涉光源承諾十年質保。
三維形貌儀允許客戶改變可用波長掃描各種樣品。
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