賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質譜儀結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的優質工具。

賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質譜儀　　

      產品介紹                                                                                                                 
 

　　Thermo Scientific ELEMENT GD結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的優質工具。
 

　　ELEMENT GD集中了輝光放電和高分辨質譜的優勢，在以下方面有杰出表現：
 

　　· 樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設計使可縮短換樣和分析時間，顯著提高生產率；
                                                                       

　　· 檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達12個數量級，可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成；                                                     
                                                                                               

　　· 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。

標簽：賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質譜儀