博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀G系列是博曼的一款機型。該機型機構緊湊，沒有可移動部件。與博曼其他系列不同，該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上，并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小，可手動調整樣品位置測量樣品，該系列主要應用于珠寶和其他貴金屬行業的鍍層分析與應用。
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀G系列產品概述：
G系列是博曼的一款機型。該機型機構緊湊，沒有可移動部件。與博曼其他系列不同，該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上，并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小，可手動調整樣品位置測量樣品，該系列主要應用于珠寶和其他貴金屬行業的鍍層分析與應用。
G系列標準配置包括一個固定準直器，一個固定焦距的相機，固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣，該型號也可升級為包括多個準直器，可變焦點相機和SDD探測器。
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀G系列
可滿足以下類型用戶的需求：
- 樣品測試量相對較小
- 客戶或供應商對于鍍層提出了新要求
- 主要分析珠寶或其他貴金屬
- 預留擺放空間小
- 預算有限
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀G系列產品參數：
類別 | 參數 |
元素測量范圍： X射線管： 探測器： 分析層數及元素數： 濾波器/準直器： 焦距： 數字脈沖器： 計算機：
相機： 電源： 重量： 馬達控制/可編程XY平臺： 延伸可編程XY平臺： 樣品倉尺寸： 外形尺寸： | 13號鋁元素到92號鈾元素 50 W（50kV和1mA）微聚焦鎢鈀射線管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器 5層，每層可分析10種元素，成分分析至多可分析25種元素 4位置一次過濾器/雙規格準直器 激光單定焦距 4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz 25kg 不可用 不可用 高度：125mm（5"），寬度：380mm（15"），深度：300mm（12"） 高度：400mm（16"），寬度：400mm（16"），深度：380mm（15"） |
關于美國博曼：
美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和*的軟件系統，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統也可以測量高熵合金（HEAs）。
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