博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件,L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現(xiàn)大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12“x22“x24“(LxH)的樣品。XY平臺的行程為13“x10“。
博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 L系列產(chǎn)品概述:
L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件,L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現(xiàn)大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"(LxH)的樣品。XY平臺的行程為13"x10"。
標準配置包括一個4位置多準直器組件,以及一個可在凹陷區(qū)域進行測量的變焦相機。 與其他型號一樣,準直器尺寸和焦距可根據(jù)不同的客戶應用進行定制。 包括可編程的XY平臺,為了滿足更大樣品測測量,XY平臺可以移除。探測器采用硅PIN半導體探測器,可升級為高性能SDD探測器。
博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 L系列
可滿足以下類型用戶的需求:
- 樣品的長寬高分別超過12"但小于24"
- 需容納多個樣品進行自動化多點測量
- 可擴展到更大尺寸的樣品,用于未來的項目
- 符合IPC-4552A
博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 L系列產(chǎn)品參數(shù):
類別 | 參數(shù) |
元素測量范圍: X射線管: 探測器: 分析層數(shù)及元素數(shù): 濾波器/準直器: 焦距: 數(shù)字脈沖器: 計算機:
相機: 電源: 重量: 可編程XY平臺: 樣品倉尺寸: 外形尺寸: | 13號鋁元素到92號鈾元素 50 W(50kV和1mA)微聚焦射線管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器 5層,每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素 4位置一次過濾器/4種規(guī)格準直器 可變焦 4096 多通道數(shù)字處理器,自動死時間和逃逸峰校正 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz 110kg 平臺尺寸:10"x 10"| 行程:10"x 10" 高度:280mm(11"),寬度:550mm(22"),深度:600mm(24") 高度:750mm(30"),寬度:700mm(28"),深度:750mm(30") |
關于美國博曼:
美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識產(chǎn)權的鍍層檢測技術和*的軟件系統(tǒng),可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金(HEAs)。
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