紫外可見近紅外量子效率測量系統可以測試單顆粒的量子效率，包括激發光譜、EEM三維光譜和量子效率、形貌信息等。

       紫外可見近紅外量子效率測量系統產品特點
 

　　·量子效率包括：內部量子效率、外部量子效率。色坐標、色純度、色溫及峰位信息；
 

　　·激發波長依賴的量子效率；薄膜的透射和反射量子效率；
 

　　·同時提供激發光譜、三維EEM光譜；
 

　　·粉體(包括單顆粒)、固體、液體、薄膜(包括單面)樣品測試需要；
 

　　·可準確到0.01% 以下的絕度量子效率測試；
 

　　·測試波長可覆蓋300nm -1600nm范圍；
 

　　·單態氧發光效率；
 

　　·上轉換量子效率；
 

　　·薄膜材料發光，雙面獨立測試模式；
 

　　·紫外可見近紅外量子效率測量系統可以測試單顆粒的量子效率，包括激發光譜、EEM三維光譜和量子效率、形貌信息等；
 

　　·可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率；
 

　　·采用標準樣品驗收，為您的數據增添提供準確保證；
 

　　·搭配積分半球系統(HalfMoon)，滿足高準確度同時保證高靈敏度；
 

　　·激發光源選擇波長250-800nm，同時可選用激光器作為光源；
 

　　·日本國家物質研究所NIMS 標準發光樣品測試選用設備；
 

　　·備有可自動變溫量測(～300℃)的溫控套件。(QE-2100)
 

　　降低雜散光的多通道分光光譜儀

　　激發光源系統

　　其它

　　電源