IMA™高光譜顯微鏡平臺可提供同樣高的光譜和空間分辨率。將這個模塊化系統配置為快速掃描VIS，NIR和/或SWIR光譜，可同時繪制光致發光，電致發光，熒光，反射光和透射光的組合。每個IMA™都配備了高吞吐量的全局成像濾鏡；這使其比依賴掃描光譜的高光譜系統更快地測量百萬像素超立方體。
執行復雜的材料分析，例如太陽能電池表征和半導體質量控制（例如：鈣鈦礦，GaAs，SiC，CIS，CIGS等）。
在復雜的環境（包括活細胞和組織）中研究IR標記。以在第二生物窗口中發射的IR熒光團的光譜異質性為例。
檢索暗場圖像并獲得透明和未染色樣品（例如聚合物，晶體或活細胞）的對比度。
| 光譜范圍 | VIS-SWIR型號 | |
|---|---|---|
可見光 | 短波 | |
| 光譜分辨率 | <2納米 | <4納米 |
| 相機 | CCD，EMCCD，sCMOS | ZephIR 1.7 |
激發波長 | 405、447、532、561、660、730、785或808 nm | |
| 顯微鏡 | 直立或倒立；科學級 | |
| 空間分辨率 | 亞微米 | |
| 大樣本大小 | 10厘米x 10厘米 | |
| X，Y旅行范圍 | 76毫米x 52毫米 | |
| Z-階段分辨率 | 100納米 | |
| 照明 照明選項 | 透射，透射，LED，HG，落射 熒光模塊，暗場模塊 | |
| 波長精度 | 0.25nm | |
| 視頻模式 | 百萬像素相機用于樣品可視化 | |
| 數據處理 | 空間過濾，統計工具，頻譜提取，數據歸一化，頻譜校準，疊加，中心位置圖等。 | |
| 超光譜數據格式 | HDF5，FITS | |
| 單圖像數據格式 | HDF5，CSV，JPG，PNG，TIFF | |
| 軟件 | PHySpec™控制和分析（包括計算機） | |
| 尺寸圖 | ?150厘米x 85厘米82厘米 | |
| 重量 | ?80公斤 | |
SiC的缺陷表征 
GaP薄膜表征 
CIS太陽能電池的表征 
CIGS電池材料的高光譜表征 
使用高光譜系統研究癌細胞中的納米顆粒 
基于DNA的光學化學傳感器就研究
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