| 膜厚測量儀 | |||
通過薄膜表面與基底材料反射光的干涉現象，可快速可靠地測量半透明及透明膜的厚度。非接觸式測量，不會破壞測試樣品。 NanoCalc測試系統主要包括：寬帶光源、高性能線陣CCD光譜儀、傳輸光纖、樣品測試臺及測量分析軟件。NanoCalc膜厚測量儀適合于在線膜厚測量，包括氧化層、氮化硅薄膜，感光膠片及其它類型的薄膜，NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷等物質上的抗反射涂層、抗膜涂層。
相關產品*： 色度計（ADMESY） SOLAR公司的波長計SHR、SHR-IR波長計 積分球（Labsphere） 溫控支架（Quantum Northwest）
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