礦石分析儀
EDX 5500B X射線熒光分析儀是利用XRF技術解決復雜成份中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率；采用SDD硅漂移探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性；利用解譜技術使譜峰分解，對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
臺式X射線熒光分析儀 能量色散EDX光譜儀的型號：EDX 5500B
X光管：Rh靶材；50W；
高壓：50KV；1mA
探測器：SDD（硅飄移探測器）
配置真空裝置，包括真空泵
測試元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等
X射線熒光分析儀的基本原理：
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學意義表達如下：
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定性分析和定量分析
產品技術指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
標準配置
單樣品真空腔體
計算機、打印機
SDD硅漂移探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
精準的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
真空泵（可選）
壓片機（可選）
工作環境：
1、設備合理的工作環境，首先是不要在有電機、振動、電磁、高壓或有高頻率燒電焊器的地方安裝設備，這樣會干擾我們設備或造成設備不能正常工作。
2、溫度：恒溫在250C左右，范圍超過10C以上影響大，所以要在溫度適合的地方做測試。建議采用空調房。
3、濕度：要在濕度均衡的地方做測試。不能超過90%的濕度。
4、灰塵容易腐蝕電路板，所以設備要保持干凈，工作室也同樣要保持干凈。
5、雷電天氣應關掉電源，因為閃電會直接影響設備的正常運作。
應用領域：
金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。
RoHS檢測分析、鹵素檢測分析、玩具皮革等八大重金屬測試
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
土壤中元素含量分析
水泥元素分析
固危廢中的P、S、Cl以及重金屬分析
油品中硫含量分析
各種有色金屬合金、冶煉品，礦渣，爐料的分析
非金屬氧化物、石灰石、鈦白粉等復雜材料的分析
