X熒光光譜分析儀iEDX-150WT（鍍層測厚儀）詳情介紹一、產品概述產品類型：X熒光光譜儀產品名稱：鍍層測厚儀(可選配鍍液檢測，RoHS檢測，合金分析功能）型號：iEDX-150WT生產商：韓國ISP公司二、產品優勢1.鍍層檢測，最多鍍層檢測可達5層

X熒光光譜分析儀iEDX-150WT（鍍層測厚儀）

詳情介紹

一、產品概述

產品類型： X熒光光譜儀 

產品名稱： 鍍層測厚儀 (可選配鍍液檢測，RoHS檢測，合金分析功能）

型    號： iEDX-150WT

生 產 商： 韓國ISP公司

二、產品優勢

1. 鍍層檢測，最多鍍層檢測可達5層。

2. 對于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準確分析0.2-0.5uin的金層。

3. 可同時進行選配RoHS檢測功能，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。

4. 可同時進行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，

5. 可同時進行選配合金成分分析功能。

6. 開槽式超大可移動全自動樣品平臺610*525 (長*寬)，樣品移動距離可達112*2X5mm(長*寬*高) ；專為線路板行業研制。

7. 激光定位，可以連續自動多點程控測量；

8. 可以選配多準直器系統，單準直器/6個準直器/7個準直器。

9. 可檢測固體、液體、粉末狀態材料；

10. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低；

11. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析；

12. 操作簡單、易學易懂、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果（20-40秒）；

13. 標配德國AmptekSI-Pin 探測器，選配高精度硅漂移SDD探測器，保證測試精度。

14. 軟件支持無標樣分析。

15. 相對于傳統鍍層，開機不需要預熱，可以可以測量，測量后可以直接關機，節約用電，減少關鍵部件（X射線管，高壓等）消耗，并減少了等待時間。
三、產品配置及技術指標說明

四、iEDX-150WT型號光譜儀軟件功能

1) 軟件應用
- 單鍍層測量
- 線性層測量，如：薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量。
- 無電鍍鎳測量
- 電鍍溶液測量
- 吸收模式的應用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

    - 勵磁模式的應用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數法可以滿足所有應用領域的測量

2) 軟件標定
- 自動標定曲線進行多層分析

- 使用無標樣基本參數計算方法

- 使用標樣進行多點重復標定

- 標定曲線顯示參數及自動調整功能

3) 軟件校正功能：
- 基點校正（基線本底校正）

- 多材料基點校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等

- 密度校正

4) 軟件測量功能：
    - 快速開始測量

- 快速測量過程

- 自動測量條件設定（光管電流，濾光片，ROI）

5) 自動測量功能（軟件平臺）

- 同模式重復功能（可實現多點自動檢測）

- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)

- 測量開始點設定功能（每個文件中存儲原始數據）

- 測量開始點存儲功能、打印數據

- 旋轉校正功能

- TSP應用

- 行掃描及格柵功能

6) 光譜測量功能

- 定性分析功能 （KLM 標記方法）

- 每個能量/通道元素ROI光標

- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法

- 標度擴充、縮小功能（強度、能量）

7） 數據處理功能

- 監測統計值： 平均值、 標準偏差、 值。

- 最小值、測量范圍，N 編號、 Cp、 Cpk，

- 獨立曲線顯示測量結果。

- 自動優化曲線數值、數據控件

8）其他功能

- 系統自校正取決于儀器條件和操作環境

- 獨立操作控制平臺

- 視頻參數調整

- 儀器使用單根USB數據總線與外設連接

- Multi-Ray、Smart-Ray自動輸出檢測報告（HTML，Excel）

- 屏幕捕獲顯示監視器、樣本圖片、曲線等.......

- 數據庫檢查程序

- 鍍層厚度測量程序保護。

9） 儀器維修和調整功能

- 自動校準功能；

- 優化系統取決儀器條件和操作室環境；

- 自動校準過程中值增加、偏置量、強度、探測器分辨率，迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線強度、輸入電壓、操作環境。

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