EL
- 電路板故障紅外熱分析系統(tǒng)
介紹
許多電路板的缺陷，不能使用諸如電路測試、功能測試、光學(xué)檢測，以及X射線檢測等這些常規(guī)的故障分析的方法來檢測和識別缺陷。例如以下的這些缺陷：
- 電源對地短路和低電阻短路
- 過壓和邊緣組件
- 有缺陷的BGA，VOC（壓控振蕩器）和去耦電容等
- 散熱器失效
技術(shù)人員和工程師可能需要花很多時間去調(diào)試檢測和測試電路板，而大多因為無法找出缺陷而只能選擇報廢。EL電路板故障診斷系統(tǒng)提供了一個可以定位這些缺陷的檢測方法，使其成為常規(guī)分析檢測方法之外的另一種選擇。常規(guī)檢測和診斷技術(shù)之間的空白。
關(guān)于Optotherm相關(guān)產(chǎn)品在/optotherm/有詳細(xì)的描述，另建有應(yīng)用實驗室，歡迎大家送樣測試。
EL是一種有效的和經(jīng)濟的工具，它可以降低檢測成本和減少廢料。對有故障的缺陷板進行初次篩查時，EL可以快速提供有用的故障排除信息，大大減少了維修時間。
OPTOTHERM PCBA FA DETECT
待測電路板 分析結(jié)果
故障診斷軟件工具
- 熱點探測定位短路位置
- 與正常電路板比較，來解決更復(fù)雜的缺陷問題
- 紅外-可見光點對點融合疊加準(zhǔn)確定位電路板上的缺陷
應(yīng)用
產(chǎn)線返工
大量時間都花在測試從產(chǎn)線上退回來的板。技術(shù)人員使用從ICT，F(xiàn)CT等其他設(shè)備來識別缺陷，但往往很少能找出缺陷。缺陷的構(gòu)成在制造中過程與在生產(chǎn)線的末端有太大的不同。在此階段，大多數(shù)缺陷通常由電源對地短路和缺陷器件造成的。EL檢測這些測缺陷板時，已經(jīng)證明通常超過75％的檢出率。當(dāng)用EL作為有缺陷的電路板初次篩查，EL可以快速提供有用的故障排除信息，大大減少了維修時間。
返廠維修
當(dāng)電路板有具體不良現(xiàn)象從使用端退回來。很多時候，技術(shù)人員很少或不知道從哪里開始進行失效分析。 EL可以提供非常有用的信息，讓技術(shù)人員來縮小他們的搜索范圍，鎖定在只有幾個可疑組件的小區(qū)域內(nèi)。
廢品回收
EL常用于PCBA回收。報廢的PCBA價值可以達到數(shù)百萬美元，他們的恢復(fù)可以帶來直接和可觀的經(jīng)濟利益。 EL通常使OEM和供應(yīng)商得以挽救他們的50％以上的報廢品。在這樣的情況下，投資回收期可縮短至2至3個月。
功能驗證
EL可以用做電路板的基本功能測試。雖然EL不能提供電路板功能測試儀那樣的詳細(xì)的功能測試，但它可以提供基本的功能驗證。與傳統(tǒng)的功能測試儀相比，EL具有成本低和快速配置等優(yōu)點。沒有定制的硬件要求，可以在1小時內(nèi)配置完成。當(dāng)一臺專業(yè)的功能測試儀的成本太高而難以承受時，EL是理想的選擇。
優(yōu)化設(shè)計
因為增加的布局和功率密度，熱成像已成為在設(shè)計過程中的重要工具。 EL輔助電路板布局設(shè)計，幫助他們獲取和分析原型電路板和元件的溫度分布是否合理。熱管理問題可以在生產(chǎn)開始之前在設(shè)計階段就解決，限度地減少故障排查和維修帶來的高成本。此外，通過形成一個開發(fā)板和元器件的熱分布?xì)v史數(shù)據(jù)，設(shè)計人員在設(shè)計階段就可以合理布局以實現(xiàn)熱合理分布。
在線篩選
EL可以在生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進行篩選，以找出常規(guī)測試方法無法檢測的缺陷。過壓器件可以通過ICT和FCT檢測，卻在該產(chǎn)品使用的早期就失效，因而存在可靠性隱患。許多時候，這些組件的升溫速度比正常的要快，通過EL檢測在它們出廠之前就能被發(fā)現(xiàn)。通過在生產(chǎn)線的末端使用EL，許多這些缺陷可以在它們到達廢料堆之前就確定。
