應用導向 - 豐富的KitStart測試組件適用于多種的測試要求。
超高精度和穩定性 - 花崗巖探針臺底座，滿足亞微級測試要求。
SlimScope和Superscope - SlimScope用于高精度RF/mmW／load pull測試，Superscope用于亞微米級測試。
高性價比 - 用戶可根據需求配置的高性價比探針臺系統。
Superscope為擁有4個轉塔的金相顯微鏡，可安裝4個M Plan APO 95mm金相物鏡。其放大倍數，根據所選物鏡的倍數，通常由20～2000X不等。該系統常用于極小微尺寸的待測點的測試或激光應用中。
HAPS探針臺為Superscope配置了兼顧剛性和精度的基座，可進行X-Y-Z三方向的精密定位。簡單直接的操作方法，可讓用戶列加專注于測試測量應用于中去，而不是探針臺的操作。
SlimScope擁有12X的超大變倍比Zoom lens，可根據客戶對放大倍數的需求配置1X或更大倍數的M Plan APO物鏡。專用的結構設計，可讓用戶輕松的切換M Plan APO物鏡，地減少更換物鏡的麻煩并提升安全性。
SlimScope常用于對精度要求更高的RF／mmW測試，負載牽引測試等。
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