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Xevo G2-S QTof 四級桿飛行時間質譜儀

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Xevo?G2-S QTof專門為需要從復雜樣本中進行大規模定性,定量及確認成分的科學家而設計。

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與UPLC兼容,具有持久的靈敏度

Xevo® G2-S QTof專門為需要從復雜樣本中進行大規模定性,定量及確認成分的科學家而設計。

  • StepWave™的離軸離子源技術提供了優異的持久靈敏度
  • QuanTof™技術同時提供了*的與UPLC®-*兼容的質譜分辨率,基質耐受動態范圍、定量分析性能、質譜準確性和分析速度
  • UPLC®/MSE數據采集系統在一次分析中可以獲得復雜樣本的全面分析
  • 快速數據直接分析(Fast data directed analysis,FastDDA)可以確定未知化合物的完整結構特征
  • 通用的離子源結構提供了zui廣泛的接口能力,可以用于大量的應用領域
  • InliStart™保證了獲得可重現結果所需的系統性能和可用性

 

 

 

StepWave離子光學技術

StepWave離子光學技術在zui大程度降低常規維護需要的同時,大大提高了儀器的靈敏度。它以可能zui大的效率從離子源傳輸離子,且主動地過濾掉不必要的中性污染。MS信號明顯增加,由于儀器中關鍵組件可以*保持潔凈,因此您得出的定量分析結果更具有重現性,您的實驗室工作效率會更高。

QuanTof 技術

QuanTof創新性的幾何形狀與離子檢測系統相結合,增強了設備的靈敏度,而且提供了*的與UPLC-兼容的質譜分辨率,基質耐受動態范圍、定量分析性能、質量精度和分析速度。

可以在不影響MS性能的情況下,識別并定量分析出復雜樣本基質中zui窄的色譜峰,使Xevo G2-S QTof與超高效LC®無縫對接,從而為解決您zui復雜的科學難題提供一種有力的分析系統。

UPLC/MSE

UPLC/MSE 是一種簡單且具有的數據采集方法,它可以在一次分析過程中,全面地分析類復雜樣本。它可以快速采集精確質量數的前體離子和碎片離子信息,同時獲得樣本中各種可檢測物質的準確定量信息。

UPLC Fast DDA

UPLC/FastDDA可以根據色譜系統洗脫出的物質,實時智能地選擇離子進行MS/MS采集。

內置的算法可以快速檢測一級質譜信號,,并且根據閾值強度、電荷價態和預先設定的精確質量包含/排除列表,選擇共流出的(co-eluting)前體離子,并對其采集二級質譜信息。根據前體離子的價態與質荷比,優化每張質譜的碰撞能量。

UPLC/FastDDA具備快速、自動、智能和精確二級碎片質量S的能力,可用于確定未知化合物結構特征。

通用的離子源結構

沃特世的通用離子源結構,可以使您應用目前zui廣泛的離子化技術,同時也不失體驗未來創新的機會。

所有離子源均可以快速更換,幾分鐘內即可以使用。

InliStart 技術

Xevo G2-S QTof以采用了InliStart™技術為特點,它是一種可以自動完成常規任務,保證可重現的UPLC/MS數據具有zui高質量的直觀界面。

InliStart可以自動完成以下功能:

  • MS分辨率和校準檢查
  • 方便設置多種試驗
  • 預約LC/MS系統檢測
  • 連續系統監控


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