2011年推出的高性能、臺式X熒光合金分析儀EDX3600H,融匯*的合金分析技術，配備合金測試效果*的智能真空系統，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。

　　天瑞儀器公司是專業生產高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺式X熒光合金分析儀EDX3600H,融匯的合金分析技術，配備合金測試效果*的智能真空系統，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。
　　
　　EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發的儀器類型。
　　
　　具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
　　
　　同時具有合金測試、合號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
　　
　　檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態為固體、液體、粉末等。
　　
　　性能特點:
　　
　　高效超薄窗X光管，指標達到*水平
　　
　　針對合金的測試而開發的配件
　　
　　SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
　　
　　天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
　　
　　低能X射線激發待測元素，對Pb、S等微含量元素激發效果好
　　
　　智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
　　
　　自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性；
　　
　　高信噪比的電子線路單元
　　
　　針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
　　
　　多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
　　
　　內置高清晰攝像頭
　　
　　液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
　　
　　標準配置：
　　
　　合金測試高效超薄窗X光管
　　
　　超薄窗大面積的*SDD探測器
　　
　　信噪比增強器 SNE
　　
　　光路增強系統
　　
　　高信噪比電子線路單元
　　
　　內置高清晰攝像頭
　　
　　自動切換型準直器和濾光片
　　
　　自動穩譜裝置
　　
　　三重安全保護模式
　　
　　相互獨立的基體效應校正模型
　　
　　多變量非線性回歸程序
　　
　　整體鋼架結構，力度可靠的保證
　　
　　90mm×70mm的液晶屏
　　
　　外形尺寸：660mm×510mm×350mm
　　
　　樣品腔體積：Φ320mm×100mm
　　
　　重量：65Kg
　　
　　技術指標：
　　
　　測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
　　
　　元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
　　
　　同時分析元素：一次性可測幾十種元素
　　
　　測量時間：60秒-200秒
　　
　　能量分辨率為：（140±5）eV
　　
　　管壓：5KV-50KV
　　
　　管流：50uA-1000uA
　　
　　應用領域：
　　
　　檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產品