集天瑞多年貴金屬檢測技術的經驗，EDX600B使用高效而實用的正比計數盒探測器，以滿足貴金屬的成分測試和鍍層厚度測量的要求。二維的軟件控制移動平臺和激光定位裝置，使樣品上測試點的選擇更方便和準確；功能齊全的測試軟件、友好的操作界面，使測試工作輕松完成。

　　儀器簡介：
　　
　　集天瑞多年貴金屬檢測技術的經驗，EDX600B使用高效而實用的正比計數盒探測器，以滿足貴金屬的成分測試和鍍層厚度測量的要求。二維的軟件控制移動平臺和激光定位裝置，使樣品上測試點的選擇更方便和準確；功能齊全的測試軟件、友好的操作界面，使測試工作輕松完成。
　　
　　技術參數：
　　
　　元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）
　　
　　測量對象：固體、液體、粉末
　　
　　測量精度:0.05%
　　
　　分析檢出限：可達1ppm
　　
　　分析含量：一般為1ppm－99.9％
　　
　　多次測量重復性：0.1％
　　
　　*工作穩定性：0.1％
　　
　　溫度適應范圍：15℃－30℃
　　
　　測量濕度：≤70％
　　
　　測量時間：60－300秒
　　
　　電源：交流220V±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)
　　
　　主要特點：
　　
　　專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測
　　
　　內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上
　　
　　一次可同時分析24個元素
　　
　　針對不同樣品可自動切換準直器
　　
　　智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰
　　
　　任意多個可選擇的分析和識別模型
　　
　　相互獨立的基體效應校正模型
　　
　　多變量非線性回收程序