二手安捷倫ICP-MS等離子質譜儀7800中采用了7700x中一些經典成熟的技術，如高鹽樣品進樣系統（HMI）和氦氣碰撞模式，而且7800 ICP-MS 的動態線性范圍要比7700x 高一個數量級。

二手安捷倫ICP-MS等離子質譜儀7800中采用了7700x中一些經典成熟的技術，如高鹽樣品進樣系統（HMI）和氦氣碰撞模式，而且7800 ICP-MS 的動態線性范圍要比7700x 高一個數量級。氦氣碰撞模式已經被證實是應對復雜樣品基體干擾的更可靠方法，它能排除所有的多原子離子干擾，尤其是在因樣品組成復雜而無法預知的多原子離子干擾的情況下。7800 ICP-MS 還采用了7900 ICP-MS的核心技術，如第四代快速氣體切換技術ORS4、新型正交檢測器系統（ODS）、集成樣品引入系統 （ISIS 3）、MassHunter4.2軟件等，MassHunter4.2軟件中還設有方法向導、預設方法等。

性能指標：（所有指標須在同一條件下測定）

低質量數靈敏度：7Li≥50Mcps/ppm

中質量數靈敏度：89Y≥200Mcps/ppm

高質量數靈敏度：205Tl≥250Mcps/ppm或238U≥300Mcps/ppm

低質量數檢測限：9Be≤0.2ppt

中質量數檢測限：115In≤0.08ppt

高質量數檢測限：209Bi≤0.08ppt

背景：≤1.0cps（在質量數9amu處實測背景）

氧化物產率（CeO+/Ce+）：≤1.6%

雙電荷產率（Ce2+/Ce+）：≤3.0%

短期穩定性（RSD）：≤2%（20min）（須在1ppb標準溶液中測定）

長期穩定性（RSD）：≤3%（2hrs）（須在1ppb標準溶液中測定）

滿足亞ppt級到百分級濃度測定，在同一次運行中同時測定痕量與常量元素

二手安捷倫ICP-MS等離子質譜儀7800應用能力

食品中痕量元素分析能力：由于食品樣品種類多、基體復雜，國家標準對重金屬元素檢出限要求高，要求在無須使用如CH4或H2或O2氣等反應模式下，可通過He碰撞模式直接將干擾*消除，檢出限必須達到As≤10ppt，Cr≤4ppt，Cu≤0.1ppb，Al≤0.5ppb，標準模式下測定，檢出限必須達到Pb≤2ppt，Ba≤2ppt，Sn≤3ppt，Cd≤1ppt，Sb≤1ppt；

水質樣品檢出限要求：在水質樣品多元素分析中，一次分析不少于26種元素，獲得9Be與11B的DL≤6.0ppt，56Fe與78Se的DL≤20ppt，202Hg的DL≤2.0ppb；

液相聯機：商品化的聯機硬件接口及控制軟件，ICP-MS工作站軟件可同時控制ICP-MS和同品牌液相色譜聯機測試，實現1臺電腦、1套軟件即可完成聯機數據采集和分析；

聯機指標：甲基Hg,乙基Hg，無機Hg2+（以Hg計各100ppt）的混合形態標準溶液用HPLC-ICP-MS系統在10分鐘內可以達到*分離，并得出積分峰面積和保留時間等信息，各個Hg形態峰的信噪比S/N＞3。