二次離子質譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。

二次離子質譜儀
1. 適合做多層薄膜的深度分析。

2. 很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀。

3. 方便使用。

4. 樣品可以手動轉換，由于分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品。

5. 我們的系統可配置快速原子槍，使我們可以輕松處理絕緣的樣品。

6. 我們還可以做元素成像（就象化學地圖）和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。

7. 我們的系統是典型的超高真空工作臺，很容易滿足很多其它分析的使用。 結構緊湊，但不損失性能。真正的高性價比。

高靈敏度脈沖離子計數檢測器，7個數量級的動態范圍
SIMS 成像，分辨率在微米以下
光柵控制，增強深度分析能力 
所有能量范圍內，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸
差式泵3級過濾四極桿，質量數范圍至1000amu 
靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器
Penning規和互鎖裝置可提供過壓保護
通過RS232、RS485或Ethernet LAN，軟件 MASsoft控制